UV能量計在光刻技術(shù)中的應(yīng)用

來源:林上科技   發(fā)布時間:2020/05/11 09:52  瀏覽:3463
UV能量計的應(yīng)用領(lǐng)域很多。本文介紹讀者相對了解較少的領(lǐng)域,在光刻曝光技術(shù)中的應(yīng)用。

光刻技術(shù)是將掩模版上的圖形,轉(zhuǎn)移到涂有光致抗蝕劑(或者稱光刻膠)的硅片上,通過一系列的生產(chǎn)步驟將硅片表面薄膜的特定部分除去的一種圖形轉(zhuǎn)移技術(shù)。主要用于制造半導(dǎo)體元件,印刷板,印刷電路板,液晶顯示面板,等離子顯示面板等。

根據(jù)曝光方式的不同,光刻機(jī)也主要分為接觸式,接近式以及投影式3種。

接觸式光刻機(jī)是最簡單的光刻機(jī),其優(yōu)點是設(shè)備簡單,分辨率高,沒有衍射效應(yīng)。而缺點是掩模版與涂有光刻膠的晶圓片直接接觸,每次接觸都會在晶圓片和掩模版上產(chǎn)生缺陷,降低掩模版的使用壽命,成品率比較低,不適合大規(guī)模的生產(chǎn)。

接近式的光刻機(jī)掩模版與光刻膠間隔10~50μm,所以缺陷大大減少,優(yōu)點是避免晶圓片與掩模直接接觸,缺陷少,缺點是分辨率下降,存在衍射的效應(yīng)。

如今硅片光學(xué)曝光最主要的方法是投影式曝光,這種方法有接觸式的分辨率,但不產(chǎn)生缺陷。

光刻設(shè)備主要采用的是汞燈作為曝光光源, 光源的波長對提高分辨率非常重要,利用UV能量計對固化光源的強(qiáng)度和能量進(jìn)行檢測,防止紫外線強(qiáng)度過高對分辨率產(chǎn)生重大影響。這也就是光刻曝光技術(shù)需要UV能量計參與的原因。

UV能量計LS120

林上的UV能量計LS120和LS130都是高壓汞燈固化專用的檢測儀器。

UV能量計LS120可以檢測紫外線燈的能量,功率和溫度,還具有功率曲線和溫度曲線圖顯示。

而UV能量計LS130則可以檢測紫外線燈的能量和功率,具有功率曲線,還可以統(tǒng)計功率最大值,采用耐高溫設(shè)計,可長時間運行在100攝氏度的環(huán)境中。

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